普赛斯仪表致力于为高校打造芯片及功率器件测试平台，提高学生动手实践能力，利用迅速革新的产品解决方案，帮助学生在实践中捕获、测量、分析和模拟芯片、器件世界。集成电...

霍尔传感器来料测试仪集多种测量和分析功能一体，可精准测量各种电流传感器（霍尔电流传感器、罗氏线圈、皮尔森线圈等）的静态与动态参数，单台大电流源电流可高达1000...

普赛斯仪表专业研究和开发半导体材料与器件测试的专业智能装备，产品覆盖半导体领域从晶圆到器件生产全产业链。推出基于高精度数字源表(SMU）的第三代半导体功率器件静...

普赛斯电容电压特性CV曲线测试仪主要由源表、LCR 表、矩阵开关和上位机软件组成。LCR表支持的测量频率范围在0.1Hz~1MHz，源表(SMU)负责提供可调直...

在霍尔电流传感器的研发、使用过程中，对器件的响应速度、线性度、精度等特性的测量尤为重要，对确保器件性能稳定、可靠工作，以及指导器件选型使用具有重要意义。霍尔传感...

普赛斯功率器件静态参数测试系统,集多种测量和分析功能一体,可以精准测量功率半导体器件的静态参数,具有高电压和大电流特性、uQ级精确测量、纳安级电流测量能力等特点...

霍尔电流传感器测试设备霍尔效应测试可精准测量各种电流传感器（霍尔电流传感器、罗氏线圈、皮尔森线圈等）的静态与动态参数，单台大电流源电流可高达1000A。该系统可...

武汉普赛斯仪表CTMS1000A霍尔测试系统霍尔测试仪集多种测量和分析功能一体，可晶准测量各种电流传感器（霍尔电流传感器、罗氏线圈、皮尔森线圈等）的静态与动态参...

普赛斯半导体功率器件C-V测试系统主要由源表、LCR表、矩阵开关和上位机软件组成。LCR表支持的测量频率范围在0.1Hz~1MHz，源表(SMU)负责提供可调直...

武汉普赛斯仪表CTMS1000A传感器性能测试台霍尔延时响应测试集多种测量和分析功能一体，可晶准测量各种电流传感器（霍尔电流传感器、罗氏线圈、皮尔森线圈等）的静...

普赛斯半导体结电容分析系统,集多种测量和分析功能一体,可以精准测量IGBT功率半导体器件的静态参数,具有高电压和大电流特性、uQ级精确测量、纳安级电流测量能力等...

在霍尔电流传感器的研发、使用过程中，对器件的响应速度、线性度、精度等特性的测量尤为重要，对确保器件性能稳定、可靠工作，以及指导器件选型使用具有重要意义。霍尔电流...

在霍尔电流传感器的研发、使用过程中，对器件的响应速度、线性度、精度等特性的测量尤为重要，对确保器件性能稳定、可靠工作，以及指导器件选型使用具有重要意义。 直流电...

普赛斯仪表推出的霍尔延时响应测试系统可精准测量各种电流传感器（霍尔电流传感器、罗氏线圈、皮尔森线圈等）的静态与动态参数，单台大电流源电流可高达1000A。该系统...

普赛斯功率器件CV测试仪主要由源表、LCR 表、矩阵开关和上位机软件组成。LCR表支持的测量频率范围在0.1Hz~1MHz，源表(SMU)负责提供可调直流电压偏...

普赛斯功率MOS管CV测试仪主要由源表、LCR 表、矩阵开关和上位机软件组成。LCR表支持的测量频率范围在0.1Hz~1MHz，源表(SMU)负责提供可调直流电...

普赛斯功率器件CV测试仪主要由源表、LCR 表、矩阵开关和上位机软件组成。LCR表支持的测量频率范围在0.1Hz~1MHz，源表(SMU)负责提供可调直流电压偏...

普赛斯功率半导体器件CV测试系统主要由源表、LCR 表、矩阵开关和上位机软件组成。LCR表支持的测量频率范围在0.1Hz~1MHz，源表(SMU)负责提供可调直...

普赛斯仪表推出的汽车电流传感器标定测试设备集多种测量和分析功能一体，可精准测量各种电流传感器（霍尔电流传感器、罗氏线圈、皮尔森线圈等）的静态与动态参数，单台大电...

针对千瓦级大功率半导体激光器，普赛斯推出国产化极优性价比大功率激光器老化测试系统解决方案.设备可扩展至4层结构，每层设计若干路，每路支持1-16只激光器芯片的串...